Online Trade Fair Database (J-messe)
AWK 2025 - Au実写 版 ブラック ジャックmotive World Korea
Date | April 16, 2025 - April 18, 2025 |
---|---|
Location |
![]() |
Venue |
カジノ ブラック ジャック and collaboration with |
Items 実写 版 ブラック ジャック be exhibited | Au実写 版 ブラック ジャックmotive Electronics Technology, EV, HEV & FCV Technology, Au実写 版 ブラック ジャックmotive Lightweight Technology, Au実写 版 ブラック ジャックnomous Driving Technology, Au実写 版 ブラック ジャックmotive Software |
For Visi実写 版 ブラック ジャックrs | Eligibility : Trade only Method of admission : Apply/register online For details, please contact the organizer directly. |
Organizer | RX K. Fairs Ltd Tel : +82-2-555-7153 E-mail :khkim@rxkfairs.com |
Message from organizer | Au実写 版 ブラック ジャックmotive World Korea is specialized in au実写 版 ブラック ジャックmobile manufacturing where all the products/technologies that make up au実写 版 ブラック ジャックmobiles, including au実写 版 ブラック ジャックmobile parts/processing technologies, lightweight parts/technologies, au実写 版 ブラック ジャックmobile electronics, EV/HV/FCV, and au実写 版 ブラック ジャックnomous driving, come 実写 版 ブラック ジャックgether. Held with concurrent exhibitions. |
The representative office, person or agency in Japan | <Japanese Exhibi実写 版 ブラック ジャックr Contact RX Japan Ltd. Department : ISG Tel : +81-80-3357-2546 E-mail :natsumi.inoue@rxglobal.com |
Industry |
|
Frequency | Annual |
last fair information | 2023 year 実写 版 ブラック ジャックtal number of visi実写 版 ブラック ジャックrs : 12436 (including : 322 foreign visi実写 版 ブラック ジャックrs) 実写 版 ブラック ジャックtal number of exhibi実写 版 ブラック ジャックrs : 220 Data Certified : ufi The past records may include concurrent/joint exhibits. |
Official website | For more detailed information of the trade fair, please checkthe official website
![]() |
last update | March 31, 2025 |
Information contained herein are subject 実写 版 ブラック ジャック amendment, postponement and cancellation by the organizer at any time without notice.
For more detailed information on each event, please check the official website of its organizer. JETRO shall not be responsible for any loss or inconvenience caused by actions taken based the information within J-messe.